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电子元器件的RoHS高效检测 X荧光分析仪的应用

发布时间:2024-06-17 09:34:01         点击:304

电子元器件的检测中,对材料的RoHS检测是非常重要的,X荧光光谱仪等多款元素检测设备,能有效对电子元器件中的铅汞镉等多种元素进行分析,是RoHS检测重要帮手。

X荧光分析仪是利用X射线荧光光谱法来检测物质中的元素含量。当被分析的样品受到X射线照射时,会发出包含样品化学组成信息的X射线荧光。通过对这些荧光的分析,可以确定被测样品中各组分的含量。

检测步骤

样品准备:将电子元器件拆分为单一材质,即均一材质,以便进行准确的元素分析。

检测操作:使用X荧光分析仪对样品进行照射,并收集发出的X射线荧光。

数据分析:通过对比荧光的能量或波长,确定样品中含有的元素种类及其含量。

X荧光分析仪的电子元器件检测

X荧光分析仪的电子元器件检测

检测内容

RoHS检测主要关注电子元器件中是否含有铅、镉、汞、六价铬、多溴联苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)等六种有害物质,以及这些物质的含量是否超过RoHS指令的限制。X荧光分析仪能够对其中几种元素进行准确的定性和定量分析。

仪器特点与优势

非破坏性检测:X荧光分析仪无需对样品进行预处理,是一种非破坏性的检测方法,适用于大批量的快速检测。

高精度与高灵敏度:该仪器具有极高的分辨率和灵敏度,能够准确地检测出样品中的微量元素。

广泛应用:X荧光分析仪不仅适用于电子元器件的RoHS检测,还可应用于计算机、电话机、相机、手机等电子制造业的质量控制和检验领域。

X荧光分析仪在电子元器件的RoHS检测中发挥着重要作用,其通过利用X射线荧光光谱法准确地检测出样品中的有害元素含量,为电子元器件的环保生产提供了有力支持。

 

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